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少子壽命生產商

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    面議
  • 起訂量

    1
  • 庫存總量

    9999
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認證資料 Certification Data

陜西開爾文測控技術有限公司

  • 聯系人:杜浩晨
  • 官網地址:www.kewtest.cn
  • 經營模式:制造商
  • 主營產品:IGBT測試儀,IGBT測試系統,半導體器件測試儀,軌道交通IGBT測試儀
  • 所在地:陜西省#陜西省陜西省西安市高新區工業園發展大道26號
  • 供應產品:55
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產品詳情

Product details

此設備采用開路電壓衰減法設計,開路電壓衰減法是測試少子壽命的一種方法。適合于測量PN結參雜區的少子壽命。被測的PN結P側和N側要分別形成歐姆接觸。(測試的前題是必須形成PN結和歐姆接觸)。測試PN結兩端的電壓波形,即可反映少子壽命的變化情況。
少子壽命測試范圍:100nS—1mS;
測試樣品規格:Φ6—Φ75;
少子壽命測試重復性:≤2%;
測試形式:自動測試;
測試方法:開路電壓衰減法;

少子壽命測試是長基區少子壽命對器件的特性有一定的影響。通過監測少子壽命分析器件內部問題,對改善器件設計和工藝有一定的參考價值。

聯系方式

Contact Us
  • 聯系人姓名:杜浩晨
  • 聯系人職位:經理
  • 聯系人手機:13572125545
  • 企業電話:86-029-89188495
  • 詳細地址:陜西省#陜西省陜西省西安市高新區工業園發展大道26號